| [1]J.Liu(劉軍), Y.Han, X.Li, “Extended Selective Encoding for Reducing Test Data and Test Power”, IEICE Transactions on Information and Systems, 93(8), pp.2223-2232, 2010. (SCI, EI) [2]劉軍,吳璽,韓銀和,李曉維,“基于可重構MUXs網絡的低功耗測試數據壓縮方法”,電子學報, 39(5),pp.1190-1193,2011。(EI) [3]劉軍,韓銀和,李曉維,“動態更新參考切片的IP核測試數據壓縮方法”,計算機輔助設計與圖形學學報,22(11),pp.2013-2020,2010。(EI) [4]J.Liu(劉軍), Y.Han, X.Li, “Extended Selective Encoding for Reducing Test Data and Test Power”, Proceedings of IEEE Asian Test Symposium(ATS), pp.323-328, 2009. (EI) [5]J.Liu(劉軍), Y.Han, X.Li, “Scan Slices Compression Technique Using Dynamical Reference Slices”, Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT), pp.82-85, 2009. [6]梁華國,劉軍,蔣翠云,歐陽一鳴,易茂祥 “約束輸入精簡的多掃描鏈BIST方案”,計算機輔助設計與圖形學學報,19(3),pp.371-375,2007。(EI) [7]吳璽,劉軍,劉正瓊,“內建自測試相移器設計算法的優化”,電子技術應用,pp.31-33,2007年第6期。 [8]劉軍,梁華國,李揚, “一種基于測試數據兩維壓縮的BIST新方案”,合肥工業大學學報(自然科學版),29(10),pp.1215-1219,2006。 [9] 李揚,梁華國,劉軍,胡志國,“基于部分測試向量切分的LFSR重新播種方法”,計算機輔助設計與圖形學學報,19(3),pp.361-365,2007。(EI) [10]Y.Cheng, L.Zhang, Y.Han, J.Liu(劉軍), X.Li, “Wrapper Chain Design for Testing TSVs Minimization in Circuit-Partitioned 3D SoC”, Proceedings of IEEE Asian Test Symposium(ATS), pp.181-186, 2011.(EI)
已授權的發明專利: [1] 梁華國,劉軍,蔣翠云,王偉,李揚,易茂祥,歐陽一鳴,“一種多掃描鏈的大規模集成電路測試數據壓縮方法”,專利號:ZL 200610085910.X,授權日期:2009年7月22日 [2] 梁華國,張磊,詹文法,易茂祥,歐陽一鳴,劉軍,黃正峰,李揚,毛劍波,“一種塊標記的系統芯片測試數據壓縮方法”,專利號:ZL 200610156030.7,授權日期:2008年12月24日 |