| [1]J.Liu(劉軍), Y.Han, X.Li, “Extended Selective Encoding for Reducing Test Data and Test Power”, IEICE Transactions on Information and Systems, 93(8), pp.2223-2232, 2010. (SCI, EI)
[2]劉軍，吳璽，韓銀和，李曉維，“基于可重構MUXs網絡的低功耗測試數據壓縮方法”，電子學報, 39(5)，pp.1190-1193，2011。(EI)
[3]劉軍，韓銀和，李曉維，“動態更新參考切片的IP核測試數據壓縮方法”，計算機輔助設計與圖形學學報，22(11)，pp.2013-2020,2010。(EI)
[4]J.Liu(劉軍), Y.Han, X.Li, “Extended Selective Encoding for Reducing Test Data and Test Power”, Proceedings of IEEE Asian Test Symposium(ATS), pp.323-328, 2009. (EI)
[5]J.Liu(劉軍), Y.Han, X.Li, “Scan Slices Compression Technique Using Dynamical Reference Slices”, Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT), pp.82-85, 2009.
[6]梁華國，劉軍，蔣翠云，歐陽一鳴，易茂祥 “約束輸入精簡的多掃描鏈BIST方案”，計算機輔助設計與圖形學學報，19(3)，pp.371-375，2007。(EI)
[7]吳璽，劉軍，劉正瓊，“內建自測試相移器設計算法的優化”，電子技術應用，pp.31-33，2007年第6期。
[8]劉軍，梁華國，李揚， “一種基于測試數據兩維壓縮的BIST新方案”，合肥工業大學學報(自然科學版)，29(10)，pp.1215-1219，2006。
[9] 李揚，梁華國，劉軍，胡志國，“基于部分測試向量切分的LFSR重新播種方法”，計算機輔助設計與圖形學學報，19(3)，pp.361-365，2007。(EI)
[10]Y.Cheng, L.Zhang, Y.Han, J.Liu(劉軍), X.Li, “Wrapper Chain Design for Testing TSVs Minimization in Circuit-Partitioned 3D SoC”, Proceedings of IEEE Asian Test Symposium(ATS), pp.181-186, 2011.(EI)
已授權的發明專利：
[1] 梁華國，劉軍，蔣翠云，王偉，李揚，易茂祥，歐陽一鳴，“一種多掃描鏈的大規模集成電路測試數據壓縮方法”，專利號：ZL 200610085910.X，授權日期：2009年7月22日
[2] 梁華國，張磊，詹文法，易茂祥，歐陽一鳴，劉軍，黃正峰，李揚，毛劍波，“一種塊標記的系統芯片測試數據壓縮方法”，專利號：ZL 200610156030.7，授權日期：2008年12月24日 |
